SCAN25100TYA

• 超越LV和HV CPRI电压和抖动要求
• 2457.6，1228.8和614.4 Mbps操作
• 集成延迟校准测量（DCM）直接测量T14和toffset处延误 ≤ ± 800 PS
• DCM还测量芯片和其他延误 ≤ PS精度± 1200
• 确定性芯片延迟
• 独立的发送和接收无缝RE同步锁相环
• 低噪音恢复时钟输出
• 不需抖动单跳的应用清洗
• > 8 kV的ESD对CML IO，> 7的所有其他引脚千伏，> 2千伏清洁发展机制
• 热插拔保护
• LOS，LOF，违反8B/10B线路编码，逗号和接收器PLL锁定报告
• 可编程hyperframe长度和hyperframe字符的开始
• 可编程发射去加重及接收带有片上终端均衡
• 先进的可测性功能
• IEEE 1149.1和1149.6
• 在高速BIST模式发生器/校验器
• 多环回模式
• 1.8V或3.3V兼容并行总线接口
• 100引脚TQFP封装裸露DAP
• 工业-40至+85 ° C温度范围

说明

该SCAN25100是2457.6，1228.8和614.4 Mbps的高速双向串行数据在FR - 4印刷电路板的背板，平衡电缆，光纤传输串行器/ deseralizer器（SerDes）。 SCAN25100集成的高精度延迟校准测量（DCM）电路，措施链路延迟元件的精度优于± 800 ps的更好。

SCAN25100具有独立的发送和接收系统锁相环，片上振荡器，以及智能时钟管理电路，自动执行远程无线电头同步，降低成本和外部时钟网络的复杂性。

虽然an的SCAN25100是MDIO接口编程以及通过引脚，具有可配置发射去加重，接收均衡，高速率的选择，内部格局产生/验证和环回模式。 除了在高速BIST的SCAN25100包括IEEE 1149.1和1149.6可测试性。